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文天精策儀器科技（蘇州）有限公司是專業(yè)的冷熱臺生產廠家， -190~600℃，高溫1200℃，溫控精度±0.1℃。光學冷熱臺是能夠與光學顯微鏡、掃描電子顯微鏡、環(huán)境掃描電子顯微鏡、低溫凍干顯微鏡、共聚焦拉曼顯微鏡、熒光顯微鏡等多種顯微鏡設備結合，通過編程精密控制樣品臺溫度，快速加熱或冷卻樣品，可以觀察、記錄該過程中樣品發(fā)生的結構和形貌變化，探究和認識樣品的理化性質。

半導體冷熱臺又稱帕爾貼冷熱臺，半導體的熱-電效應，配合低溫循環(huán)液使用。 與各類顯微鏡、光譜儀、掃描電鏡等光學儀器設備聯用，進行變溫下的光學觀察及測試。 實現樣品開放式 / 氣密 / 真空環(huán)境下的變溫光學觀察及測試。

光學冷熱臺支持與各類顯微鏡、光譜儀等光學儀器設備聯用，進行變溫下的光學觀察及測試。 可在 -190~600℃ / RT~1200℃ 的溫度范圍內進行溫控，實現樣品在氣密 / 真空環(huán)境下的變溫光學觀察及測試。

XRD原位冷熱臺是一款X-射線衍射儀的變溫測試附件，可實現樣品變溫測試的溫度范圍：-190~600°C / RT~1200°C 支持在空氣 / 惰性氣體 / 真空的環(huán)境條件下進行測試。 適合于粉末、片材樣品在變溫下進行X-射線結構研究，支持在現有各種X-射線衍射儀（布魯克、賽默飛、理學等）上定制樣品架進行適配。

變溫光譜儀冷熱臺可實現多種環(huán)境(氣氛、真空、濕度等)，與顯微鏡、拉曼、光譜儀、DIC等聯用，進行材料、器件等的成分、相變、形變、電學、光學性能等測試。

變溫X衍射結構緊湊，適用于多種材料的變溫XRD測試，最大溫度范圍 -190 ℃ 到 600 ℃ （可選性）。